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X射线数字检测的IQI(Image Quality Indicator)灵敏度一直无法达到传统胶片B级水平，严重制约着数字射线检测技术的应用.文中基于非晶硅面阵探测器，提出了建立信息优化数学模型的方法，对探元响应不一致性噪声、射线光子起伏噪声、射线散射三个制约因素分别运用基于基准图像的两点线性校正模型、光子累积叠加模型、射线滤波及屏蔽手段进行信息优化，减少它们对IQI的降低，使获得的图像信息最优，最终提高了检测质量，使20 mm内厚钢材料检测质量达到B级水平。