LaCaMnO/EuCuO/LaCaMnO磁性隧道结的制备与表怔

来源 :第四届全国磁性薄膜与纳米磁学会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:tawj68
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采用磁控溅射,紫外线光刻和离子束刻蚀制备了La<,2/3>Ca<,1/3>MnO<,3>/Eu<,2>CuO<,4>/La<,2/3>Ca<,1/3>MnO<,3>磁性隧道结.通过对获得的磁性隧道结的I-V特性测量,本文发现非线性的I-V特性,显示结样品的隧穿特性.有趣的是,本文发现在电极材料La<,2/3>Ca<,1/3>MnO<,3>的金属-绝缘体转变温度(T<,p>)以下,I-V曲线出现一个跳变.随着温度降低,开始出现跳动变的临界电流增大,但是跳变都发生在同样的电压下~209mV.当电流增大或减小在跳变点附近出现回滞.这一跳变只发生在铁磁金属态,表明这是一个磁性相关联的效应,可能对应一种新的磁性开关过程.虽然,目前对这一现象背后的物理机理还不清楚,但是,这一现象有可能在未来自旋电子学器件方面具有潜在的应用价值.
其他文献
制备了LaFeAlC(x=0-0.4)间隙化合物,研究发现,间隙原子C并不改变其原有的立方NaZn型晶体结构,但是随碳含量的增加,晶格常数单调上升.且磁基态由原来的弱反铁磁性逐渐变为铁磁态.在LaFeAlC中,由低温区铁磁到反铁磁相变引起的磁熵变与较高温区由反铁磁到顺磁相变引起的磁熵变叠加,在一宽温区内得到相当于Gd的大磁熵变行为.而在x>0.1的化合物中,仅由铁磁到顺磁相变引起的大磁熵变.
采用Pechini方法制备了NdNaMnO(0.05≤x≤0.30)多晶样品,对其结构、磁性以及微磁特性进行了研究.结果表明:在77-300K温度范围内,随着温度的降低,较低Na含量的样品(0.05≤x≤0.15)发生了顺磁相到铁磁相的转变,而较高Na含量(0.20≤x≤0.30)在顺磁态中发生了电荷有序转变.
本文采用X射线衍射技术研究了NdFeCoB非晶合金在电脉冲退火后α-Fe/NdFeB纳米晶结构的形成.结果表明,该非晶合金在电脉冲退火后形成的纳米晶的尺寸小于普通真空退火形成的晶粒尺寸.随着脉冲电压的增加,α-Fe相晶粒尺寸变化不大,其相含量的增加取决于成核的量的增加.
大规模合成磁性纳米线阵列材料在磁性器件应用研究中引起了极大兴趣.本文利用电化学沉积方法在高度有序纳米孔氧化铝模板中大规模制备了NiFe纳米线阵列.该方法得到的NiFe纳米线产量高(大约10/cm),而且这些纳米线阵列具有(11)择优生长取向和很高的纵横比.与其体材料相比,这些NiFe纳米线阵列具有增强的矫顽力和较大的剩磁化等性能,在微型磁性元件领域将具有广泛应用前景.
采用直流磁控溅射法使用合金靶制备了(TbDy)Fe薄膜.在400℃以下处理时薄膜均为非晶态.在500℃以上处理的薄膜中出现了α-Fe相.镀态薄膜呈现出垂直磁各向异性,随着基板预变形的增加,薄膜的垂直磁各向异性逐渐消失,达到一定的预变形后,薄膜没有明显的易磁化方向,这种趋势经200℃处理仍保持.经400℃处理后,所有薄膜呈现出平面磁各向异性.
用射频磁控溅射技术制备了[SiO(t)/FeNi(t)]多层膜系列(其中t和t分别代表SiO层和FeNi层的厚度,N代表层数).研究发现,对[SiO(3.3nm)/FeNi(t)]系统,当FeNi层厚度小于2.4nm时,FeNi层从连续变为不连续;在t=2.1nm时,隧道磁电阻(TMR)有极大值,为-0.64﹪,当温度高于180K时,1nR正比于T,表明导电机制为热激发的隧穿导电;对[SiO(1.
用化学共沉淀和在NH/H气氛下氮化处理得到了一系列不同Ni含量的Fe-Ni-N多晶粉末.分别用X射线衍射(X-ray Diffraction XRD)和振动样品磁强计(Vibrating Sample Magentometer VSM)做了结构和磁性的测量.结果表明:要制备出单相γ′-(FeNi)N粉末与NH/H气流比、热处理温度以及时间有关.随着Ni含量的增加,材料的晶格常数逐渐减小;饱和磁化强
用X射线衍射结合Rietveld精修的方法研究了LaYCaSrMnO(LYCSMO)的晶体结构随掺杂量的变化.结果表明,Y和Sr掺杂含量在x≤0.20范围内时只有单一正交相.a,b和c方向的晶格参数几乎保持不变,而Mn-O-Mn的键角从x=0时151.9°增加到x=0.20时的172.7°表明随着x的增加MnO八面体的对称性也增加.输运测量表明,随着掺杂浓度的增加,当x<0.10时,随着x的增加金
采用脉冲激光沉积法制备了NdSrMnO膜和YBaCuO/SrTiO/NdSrMnO结,研究了NdSrMnO膜的结构和磁输运性能以及YBaCuO/SrTiO/NdSrMnO非均匀结构的自旋准粒子隧穿注入效率随注入结窗口尺寸的变化.
采用溶胶—凝胶方法,用La和Mn的环烷酸盐溶液在LaAlO(100)基底上合成了LaMnO薄膜(0.020.05时,薄膜发生了半导体到金属的转变,转变温度随着缺La量的增加而增加,最大磁转变温度在⊿=0.3附近.MR随着缺La量的增加而减少.当缺La量比较少时,大部分缺La位已被空穴所取代;但当缺La量比较大时,缺La位并没有完全被空穴所取代,而是部分分离为MnO相,部分增加了氧缺位.