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研制过程质量控制探讨
【机 构】
:
航空工业总司第014中心
【出 处】
:
中国电子学会可靠性分会第七届学术年会
【发表日期】
:
1994年期
其他文献
介绍了低损耗反射型模拟移相器电路并报道了实验结果。这个电路集几个设计特征为一体,在X波段产生线性360°相移并且实现在所有相位状态下插损仅4.8dB,变化±0.5dB。这些结果