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本文通过研究电极高温烘烤对开关自击穿特性的影响,发现要获得稳定的自击穿电压,烘烤后可以大大降低实验次数,同时可以减小自击穿电压的分散性。对开关实际使用状态下自击穿特性的研究结果表明,开关自击穿特性的变化趋势和开关电极表面熔蚀特性密切相关,随着使用次数的增加,开关自击穿特性随之变差,开关运行650次以后,电极表面形成较大缺陷,需要维护处理。通过对开关的自放电概率分析,认为该类开关自放电概率分布符合三参数韦伯分布。