【摘 要】
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当今集成电路的复杂度和集成度越来越高，测试维护费用和时间成本也越来越高，产品可测试性设计成为产品设计的重中之重。针对某混合信号集成电路的结构功能特点，利用边界扫描技术，对其进行可测试性设计和改造，在原有电路的基础上增加故障注入电路、边界扫描链路、扫描控制电路，设计出一个测试性验证平台，然后结合边界扫描器件置换、簇测试、AD/DA测试等方法提高该混合信号集成电路的故障覆盖率。在测试性验证平台通过一系
【机 构】
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China Academy of Engineering Physics, Institute of Electronic Engineering, Sichuan MianYang 621900,C
【出 处】
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全国信息与电子工程第五届学术年会暨四川省电子学会曙光分会第十六届学术年会
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当今集成电路的复杂度和集成度越来越高，测试维护费用和时间成本也越来越高，产品可测试性设计成为产品设计的重中之重。针对某混合信号集成电路的结构功能特点，利用边界扫描技术，对其进行可测试性设计和改造，在原有电路的基础上增加故障注入电路、边界扫描链路、扫描控制电路，设计出一个测试性验证平台，然后结合边界扫描器件置换、簇测试、AD/DA测试等方法提高该混合信号集成电路的故障覆盖率。在测试性验证平台通过一系列故障注入实验完成系统测试性验证，测试结果与理论预期相同。结论表明：该可测试性设计技术对该类混合信号集成电路的故障检测与隔离能力，提高了电路课观测性，对系统监控、测试和故障定位有重要意义。
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