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JTAG边界扫描是项成熟的可测试技术,广泛应用于PCB设计中.本文讨论将边界扫描技术应用于系统级单芯片(SoC)的可测试设计中,采用JTAG边界扫描结构对我们的SoC设计平台中的存储器控制器(MC)内核进行测试包装(Wrapped-core),实现对其的测试访问.
JTAG边界扫描结构在SoC测试访问中的应用
【摘 要】
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JTAG边界扫描是项成熟的可测试技术,广泛应用于PCB设计中.本文讨论将边界扫描技术应用于系统级单芯片(SoC)的可测试设计中,采用JTAG边界扫描结构对我们的SoC设计平台中的存储器控制器(MC)内核进行测试包装(Wrapped-core),实现对其的测试访问.
【机 构】
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哈尔滨工业大学微电子中心
【出 处】
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第九届全国容错计算学术大会
【发表日期】
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2001年6期
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