MEMS在片测试系统整体校准技术探讨

来源 :2015国防无线电电学计量与测试学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:bbboy
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随着MEMS技术的高速发展,MEMS晶圆片测试是MEMS产品整个生产工程必不可少的环节,MEMS晶圆片测试系统,可以大大提高测试效率,降低新产品的开发及生产成本。所以保障MEMS晶圆片测试系统的准确性至关重要。本文主要浅析了MEMS晶圆片测试系统的现状以及整体校准问题,简单的提出了较好的解决措施初步方案。目前正在进行MEMS晶圆片测试系统整体校准技术的研究,项目初步进展顺利,希望MEMS晶圆片测试系统整体校准可以早日实现,能够更好地为MEMS器件的量产提供计量保障,为MEMS器件的设计优化提供技术支持。
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