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本研究采用X射线透视方法检测C/C 复合材料两种典型缺陷：裂纹与分层。通过优化工作电压与电流，可以得到清晰对比度比较高的图像；通过图像的灰度值的计算，对C/C复合材料缺陷的厚度值进行了估算，采用计算机断层扫描技术对估算结果进行了验证；应用扫描图像得到的灰度值变化曲线检测了C/C复合材料微缺陷。