论文部分内容阅读
本研究采用X射线透视方法检测C/C 复合材料两种典型缺陷:裂纹与分层。通过优化工作电压与电流,可以得到清晰对比度比较高的图像;通过图像的灰度值的计算,对C/C复合材料缺陷的厚度值进行了估算,采用计算机断层扫描技术对估算结果进行了验证;应用扫描图像得到的灰度值变化曲线检测了C/C复合材料微缺陷。