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在集成电路的亚微米生产工艺中,布线资源已成为影响电路功耗、速度、及成本的最主要因素,本文提出了一种基于可测试及布级成本度量的部分扫描触发器选择和连接算法,将可测试成本累积效应引入到扫描触发器选择算法中,以反映测试故障的相对困难性,同时将布线成本引入到扫描触发器连接算法中,确保在布线通道中不增加额外布线.