利用纯化离子注入型硅面结探测器测量浓度的研究

来源 :全国核电子学与核探测器学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:luoding
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利用法国施卢姆贝格公司的纯化离子注入型硅面结探测器样品EPX—25—300,以[**]Fe,[**]Pu和[**]Am作X射线源,配合国产核仪器插件,进行浓度测量研究,获得了良好的信噪比([**]Pu的信噪比为6∶1;[**]Fe的信噪比为3∶1)。该探测器对[*
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使用离子注入法,制成P型大平面HPGe探测器,其有效直径为30mm,厚度为10mm,灵敏体积为7cm。使用的P型高纯锗单晶具有约10[**]原子/cm的净杂质浓度。N[*+*]接触由真空扩散锂形成
该文介绍了高分辨率Si(Li)X射线探测器的制造方法,其形状为构槽形,体积为12mm[**]×3mm,结电容为0.88PF,对[**]Fe(5.9Kev)的能量分辨率为152ev,峰/谷=136,峰/底=319,FWTM/FWHM=1.88,使用
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