【摘 要】
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传统微波无源器件的S参数通常先在矢量网络分析仪上对同轴端进行SOLT的全二口校准,再通过测试夹具对微带器件进行测试,其中由测试夹具引入的测试误差无法消除.为实现微带双端口器件的准确测试,设计了用于LRL校准方法的测试夹具及校准件.对校准原理及校准件设计做了介绍,通过HFSS仿真软件对测试夹具进行仿真优化,并对其进行结构设计,得到实现LRL精确校准的测试夹具及校准件,并对X波段微带器件进行测试,验证
【机 构】
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中国电子科技集团公司第九研究所,四川绵阳 621000
【出 处】
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第十六届全国磁学和磁性材料会议暨第十七届全国微波磁学会议
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传统微波无源器件的S参数通常先在矢量网络分析仪上对同轴端进行SOLT的全二口校准,再通过测试夹具对微带器件进行测试,其中由测试夹具引入的测试误差无法消除.为实现微带双端口器件的准确测试,设计了用于LRL校准方法的测试夹具及校准件.对校准原理及校准件设计做了介绍,通过HFSS仿真软件对测试夹具进行仿真优化,并对其进行结构设计,得到实现LRL精确校准的测试夹具及校准件,并对X波段微带器件进行测试,验证LRL测试夹具测试的准确性.
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