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征兆测试(Syndrome Testing)和奇偶测试(Parity Testing)是已经使用多年的基于穷尽输入的固定型故障测试方法。本文在征兆测试与奇偶测试相结合的基础上，提出一种新的征兆测试方法，即，三阶征兆测试法。本方法的特点在于提高测试效率的同时提高征兆测试的故障覆盖率，使得原来征兆不可测的电路也可以进行征兆测试。其主要思想是在传统征兆测试的基础上首先引进奇偶测试，对被测电路进行预处理，提高测试效率；然后，对征兆测试作进一步升华处理，成为二阶或三阶征兆测试，提高测试的故障覆盖率。论文通过对部分基准电路和常用电路的测试实验已经验证了所提出的新方法的实用性和有效性。