基于扫描电镜的纳米材料综合分析平台及纳米材料的研究

来源 :2013年全国电子显微学学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lixuhai88888
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JEM-2010型透射电镜是日本电子株式会社(简称日本电子)90年代推出的高压高分辨通用型透射电子显微镜,主要用于观察固态物质显微形貌,分析晶体结构,检测微小物质的形貌和尺寸.
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