【摘 要】
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对经500％拉拔并在135℃下真空退火2h的P(VDF-TrFE)68/32聚合物铁电薄膜进行了单轴拉伸断裂实验,并对拉伸前后的样品进行了结构分析.结果表明:薄膜样品在零电场和电场作用下的
【机 构】
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清华大学航天航空学院 北京 100084
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对经500％拉拔并在135℃下真空退火2h的P(VDF-TrFE)68/32聚合物铁电薄膜进行了单轴拉伸断裂实验,并对拉伸前后的样品进行了结构分析.结果表明:薄膜样品在零电场和电场作用下的应力-应变行为均呈典型的二次强化现象.平行于拉伸方向的电场使聚合物铁电薄膜的屈服强度增加,而延伸率明显下降.在力电耦合场作用下,断裂样品的分子链取向程度明显低于纯力场作用下的断裂样品.因为平行拉伸方向的电场使分子链进行绕垂直于拉伸方向的轴旋转,阻碍分子链沿着外加力场方向高度取向,从而呈现出屈服强度增加而延性下降的特点.
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