【摘 要】
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先给出了PbZrTiO(PZT)陶瓷材料在低温下变温XPD分析结果,证明了超晶格的出现与材料的微结构变化有关.测试了该样品在低温下的疲劳性能.与超晶格出现以前相比,其疲劳寿命有所提高,这对于PZT材料的应用有着重要的意义.
【机 构】
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南京大学固体微结构物理国家重点实验室(江苏南京)
【出 处】
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2003年第十届全国电介质物理与功能材料学术会议
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先给出了PbZr<,0.52>Ti<,0.48>O<,3>(PZT)陶瓷材料在低温下变温XPD分析结果,证明了超晶格的出现与材料的微结构变化有关.测试了该样品在低温下的疲劳性能.与超晶格出现以前相比,其疲劳寿命有所提高,这对于PZT材料的应用有着重要的意义.
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