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随着嵌入式存储器广泛应用于集成电路设计中，对其进行故障诊断与失效分析是提高芯片成品率的一种必要手段。由于嵌入式存储器自身可控制和可观测性较差，通常需要在片内设计诊断电路来保存失效信息以满足故障诊断和失效分析需求。在高失效密度下，研究面积开销小、数据传输量少的故障诊断电路具有重要意义。本文提出了一种将失效向量进行失效位扩展并编码后存储为失效位图的电路结构。在此基础上，针对传输数据量过多导致测试时间过长问题，本文提出将压缩后的失效位图对失效地址位和测试状态、测试数据和失效向量分别压缩的方法，减少传输数据量。