论文部分内容阅读
该文简要说明I<,DDQ>测试所涉及的测试向量集、 高速监测电路及检测方法等三个方面。以实验数据为基础说明从CMOS数字IC成品中筛选出高可靠性、低功耗IC是可能的。文章着重说明了I<,DDQ>限值I<,DDQL>的确定方法及I<,DDQ>的检测步骤。该文对CMOS数字IC生产单位及用户单位有一定意义。