用正电子湮没寿命谱仪和扫描隧道显微镜研究固体中微小缺陷

来源 :第九届全国正电子谱学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:k413287823
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
在清华大学物理系的诺贝尔奖物理实验室,我们新开了用正电子湮没寿命谱仪和扫描隧道显微镜研究固体中微小缺陷等高等物理实验.我校的高等物理实验面对4年级学生和研究生,原有的普通物理实验和近代物理实验已经不能满足专业要求,为此我们新建立了多个实验,固体中的微小缺陷研究是其中的一个,本文介绍用正电子湮没寿命谱仪和扫描隧道显微镜研究固体中微小缺陷有关问题.
其他文献
通过离子交换的方法在Y型沸石分子筛中组装了CdSe半导体团簇,在不同的温度下处理后,利用正电子湮没寿命谱研究CdSe半导体团簇的热稳定性.正电子湮没寿命的测量结果表明,组装
测量了Al、Fe、Mo、Nb和Cr等纯金属和分别含Si、Mo、Nb和Cr的Fe3Al基合金的符合正电子湮没辐射多普勒展宽谱,结果表明:当Fe和Al原子形成Fe-27.5Al合金时,由于晶格中最邻近的F
本文用正电子符合多普勒展宽技术研究了AA5754合金(Al-3.0%Mg合金)中的微观缺陷,通过实验及分析得到,淬火后有空位-Mg原子复合体形成,360℃淬火的样品有Mg的偏析,并形成Mg的团
对于高分子薄膜来说,膜的微观缺陷(自由体积)尺寸大小对膜的各项性能(如分离膜的渗透性和选择性等)有重要的影响.用正电子湮没寿命谱(PALS)研究高分子材料的自由体积,与常规
使用正电子湮没寿命谱(PALS)技术研究了PS/PVAc、PS/PMMA这两个非极性-极性聚合物共混体系的相容性问题.
壳聚糖(CS)是一种天然高分子,溶于稀酸,易于成膜,具有良好的生物相容性和可降解性,壳聚糖及其共混膜在生物功能材料方面有很多的应用报道.我们课题组在原有的工作中,利用聚合
本文用正电子湮没寿命谱(PALS)研究了累托石纳米粒子和炭黑粒子对丁苯橡胶(SBR)为基体的复合材料的自由体积特性和气体阻隔性的影响.实验结果发现,随着累托石粒子在SBR基体中
采用正电子湮没(PAT)技术和傅立叶红外变换(FTIR)技术研究了高剂量(5×1017n·cm-3)快中子辐照直拉硅中的辐照损伤及其退火效应.实验表明辐照样品中存在着大量的单空位缺陷以
本文测量了不同化学成分的二元Fe-Al合金的符合正电子湮没辐射多谱勒能量展宽谱.结果发现,正电子与Fe-Al合金中的3d电子湮没的几率均很低.这表明:当Fe和Al原子形成二元Fe-Al
利用慢正电子研究了不同氧压下射频磁控反应溅射制备的ZnO样品,观察到ZnO中本征缺陷随反应气体中O2比例(PO2)的变化关系.结果表明:PO2≤70%时,这些ZnO样品中存在同一种正电子