椭偏仪实验中的一个问题

来源 :第三届全国高等学校物理实验教学研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:canyang419
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椭偏仪是研究薄膜与物质表面的一种很重要的仪器,其基本原理是利用偏振光在物质表面反射后偏振状态的变化来测量薄膜的厚度和折射率。它的物理思想明确,设计方法巧妙。本文指出了一些教材中关于椭偏仪实验原理中的一个不确切提法,并给出了分析和证明。
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