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影响基因芯片检测可靠性的一个关键因素就是待没序列与探针的碱基杂效错配，而碱基杂效错配又是由于各探针具有不同的杂交解链温度(T<,m>)所引起的。如果各探针的杂交解链温度不一致，则容易造成在某一给定条件下探针与待测序列杂交错配，从而显示错误的杂交信号，导致基因芯片检测的困难和误判断。该文首先提出一种基因芯片上寡核苷酸探针设计的新思想，即变长变覆盖探针优化设计方法，通过该方法，可以使所设计的核苷酸探讨针的杂效解链温度最大程度地保持一致，可有效地减少碱基杂交错配，提高基因芯片检测结果的可靠性。根据上述核心思想，该文提出具体的检测目标核酸序列及其突变的基因芯片设计方法。