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该文给出了一个简单的方法，用于估算包括二维(2-D)边缘效应在内的磁性绕组的ac损耗。虽然已提出一维(I-D)分析法用于估算导线绕组的绕组损耗，但是，因2-D边缘效应而引起的附加ac损耗非常显著，而不能用已提出的I-D方法预测。该文提出的方法是，基于引用一组I-D分析结果的校正系数来说明2-D边缘效应。该文还将用有限单元分析法(FEAs)验证所获得的结果。