滤波连接器电容器失效模式研究

来源 :中国电子学会第十六届电子元件学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:fhdfhdfrtr
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本文研究了滤波连接器中使用的滤波电容器失效的各种原因及情况,深入研究了电容器从生产到装配整个过程可能发生失效的因素。引起电容器失效的原因多种多样,电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境各不相同,失效机理也各不一样。电容器的常见失效模式有:介质击穿、开路、电参数变化(包括电容量超差,损耗角正切值增大、绝缘电阻下降或漏电流上升等)、表面飞弧等。电容器击穿、开路等使电容器完全失去工作能力的失效属致命性失效,其余一些失效会使电容器不能满足使用要求,并逐渐向致命失效过度,影响系统的可靠性。因此为防止电容器失效,应重点关注电容器的出厂检验和产品生产装配过程的控制。
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