超细粉末压片制样X射线荧光光谱测定碳酸岩和白云岩样品中多种元素及CO2

来源 :第九届全国地质与地球化学分析学术报告会暨第三届青年论坛会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:killer_lww
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  粉末压片X射线荧光光谱分析碳酸岩和白云岩的误差主要来自粒度效应和矿物效应.为消除粒度效应影响,本文采用超细粉末压片制样准确测定了碳酸岩和白云岩中的多种元素和CO2.使用德国FRITSCH行星式球磨机,碳化钨研磨介质将碳酸岩和白云岩进行超细粉碎,为了克服团聚效应,采用了湿法研磨.随颗粒度的减小,样品表面形态更平整、光滑,康普顿散射效应减小.研究了粒度变化对各元素分析线的强度变化,通常荧光强度随粒度减小而增加.当多个组分的颗粒度减小时,S,Si,Mg的强度将增加,Ca,A1,Ti,K的强度将减小,这取决于各自的质量吸收系数.研究了粒度变化对矿物物相组成的影响.计算了各分析元素分析线的穿透厚度,当样品的粒度碎至元素分析线的穿透厚度以下时,荧光强度受粒度的影响减小.实验发现当样品碎至d95<8μm时,基本消除了颗粒度效应影响,压片法制样,理论α系数、经验系数法结合校正基体效应,可准确测定碳酸岩和白云岩样品中14个元素,方法的精密度大大改善,除Na2O外,RSD<2%.C是超轻元素,荧光产额低且干扰严重.实验采用PX4人工多层膜晶体,粗准直器,X射线荧光光谱可定量测定碳酸岩和白云岩中的CO2.试验发现C的测量强度随测量次数的增加而增加,且随放置时间的增加而增加(即使在干燥器中存放),因此建议使用新制的样片测定CO2.
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