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<正>利用直流反应磁控溅射法在硅片上制备了 Co:ZnO 薄膜,并在不同温度(200、 400和600℃)下对薄膜进行了真空退火处理,系统研究了退火对 Co:ZnO 薄膜微结构和磁性能的影响。研究结果表明,CO2+取代 Zn2+的位置进入 ZnO 的晶格, 所有的薄膜均具有高度 c 轴择优取向的纤锌矿结构,并且显示室温铁磁性。原位