论文部分内容阅读
当石墨烯片层的缺陷密度较高时，材料的许多本征特性会受到极大的影响[1]。因此，对石墨烯材料的缺陷密度进行有效的测量，是目前一些石墨烯材料检测和表征的工作重心。不同于石墨烯薄膜，石墨烯粉体不能沿用拉曼光谱的I(D)/I(G)作为缺陷密度的参数。因为粉体中大量的片层边界会提供极强的D峰信号，这使D峰的峰强度更多取决于片层的边界情况，而非石墨烯片层内部的点缺陷密度[2]。