CCD器件低照度摄像技术

来源 :中国光学学会第四届光电器件学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:mailxxf
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面阵CCD摄像机因其分辨率低,较少用于工件几何尺寸的非接触测量中,而很多情况下要求测量出工件沿某一方向不同切面的尺寸。本文采用细分处理的方法提高了光敏元位数较低的面阵CCD的测
会议
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