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讨论模拟电路故障可测性问题，提出了以矩阵数值秩为依据的故障可测性数值判断方法。给出了考虑容差扰动及数值计算误差时的故障可测性条件。这一可测性条件不仅可给出故障可测子空间的维数K，同时还包含了保持K维可测子空间不受数值扰动影响的数值限制。据可测性分析与设计的不同要求，提出把可测性条件分解为拓扑条件及数值限制两个方面。（本刊录）