【摘 要】
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设计了一种应用于一次可编程(OTP)存储器的冗余测试电路.该电路通过对存储器内的冗余阵列进行正确的寻址,进而检测该存储器能否进行正常的数据存储及读取.该电路以D触发器为基础,采用控制信号及地址信号复用的方式,结构简单,功耗低,且具有较强的可控制性和可观测性.仿真结果及对OTP存储器的实物测试表明其实现了预期的功能,验证了该电路的可行性.
【机 构】
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电子科技大学微电子与固体电子学院 四川成都610054
【出 处】
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四川省电子学会半导体与集成技术专委会2012年度学术年会
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设计了一种应用于一次可编程(OTP)存储器的冗余测试电路.该电路通过对存储器内的冗余阵列进行正确的寻址,进而检测该存储器能否进行正常的数据存储及读取.该电路以D触发器为基础,采用控制信号及地址信号复用的方式,结构简单,功耗低,且具有较强的可控制性和可观测性.仿真结果及对OTP存储器的实物测试表明其实现了预期的功能,验证了该电路的可行性.
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