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用直接压片法制样,采用荧光光谱分析方法对氧化铝生产过程中主要的固体物料熟料进行分析,并与化学分析法进行了比较.通过大量的实验得出如下结论:对熟料样品,采用直接压片法制样,用X射线荧光光谱法测定,与化学分析法相比,除Ns(以Na2O表示的Na2SO4含量)由于受轻元素激发的影响,误差满足率稍低外,其他成分SiO2,Fe2O3,Al2O3,CaO,Na2O,K2O,TiO2等结果差值满足误差平均达90%,在分析速度占主导的情况下,基本可以满足生产要求.