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结合扫描隧道显微镜(STM)与电子能谱仪是实现表面微区元素分析的途径之一.我们将环形电子能量分析器和三维扫描探针系统相结合，建立了一台扫描探针电子能谱仪(SPEES).通过测量针尖近场发射束流激发石墨表面Ag薄膜的能量损失谱，我们用该SPEES研究了Ag表面的等离子体激元激发现象.进一步通过改变针尖一样品距离，我们研究了Ag在能损值为3.6eV处的等离子体激元峰与弹性散射峰的强度比随针尖一样品距离变化的关系.研究结果发现该强度比与针尖一样品距离的关系并不是单调变化，而是在一个特定位置存在极大.