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High Brightness Soft X-ray Source for Nanometer Scale Imaging
【机 构】
:
Friedrich-Schiller-Universit(a)tJena,AbbeCenterofPhotonics,InstituteofAppliedPhysics,Albert-Einstein
【出 处】
:
第十届国际超快光学会议(Uitrafast Optics X)
【发表日期】
:
2015年8期
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