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本文通过对DFT(Design-For-Test)可测试技术的研究,详细介绍了相关可测试技术的基本概念;并给出了在DSP设计中,进行DFT设计的流程,以及存储器内建自测试(MBIST)设计、边界扫描设计和全扫描内部测试技术的实现过程。最后对DFT设计所取得的成效作了简要的描述。
DSP设计中的DFT技术
【摘 要】
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本文通过对DFT(Design-For-Test)可测试技术的研究,详细介绍了相关可测试技术的基本概念;并给出了在DSP设计中,进行DFT设计的流程,以及存储器内建自测试(MBIST)设计、边界扫
【机 构】
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国防科技大学计算机学院长沙410073
【出 处】
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第十一届计算机工程与工艺全国学术年会
【发表日期】
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2007年8期
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