【摘 要】
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An accurate multislice method considering the spherical surface correction is carried out for low energy transmission electron diffraction (LETED) ( 100 ≤ kV). Results calculated by the sphere correct
【机 构】
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Center for High-Resolution Electron Microscopy, College of Materials Science & Engineering, Hunan Un
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An accurate multislice method considering the spherical surface correction is carried out for low energy transmission electron diffraction (LETED) ( 100 ≤ kV). Results calculated by the sphere corrected multislice (SCMS) method and the conventional multislice (CMS) method (taking the parabolic approximation) with different accelerating voltages, different Debye-Waller factors and tilt beams are quantificationally compared with each other. It is shown that only the SCMS method is suitable to calculate the LETED and imaging since the errors of the CMS is significant in the case of LETED.
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