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本文提出了用X射线荧光光谱法测定喷涂粉末中二氧化硅的含量,方法简便快速、准确、重好,对喷涂粉末的质量控制起到了很好的效果.
X射线荧光光谱法测定喷涂粉末中的二氧化硅
【摘 要】
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本文提出了用X射线荧光光谱法测定喷涂粉末中二氧化硅的含量,方法简便快速、准确、重好,对喷涂粉末的质量控制起到了很好的效果.
【机 构】
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沈阳黎明航发集团技术中心理化室,沈阳,110043
【出 处】
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全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会
【发表日期】
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2005年10期
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