在描述了非晶碳到石墨的晶体学关系之后,介绍了用 X 射线衍射（XRD）方法测定石墨无序度 P 和行墨化度 g 的原理与方法,包括从二维（10）和（11）衍射的 Fourier 分析、全谱拟合法及石墨化度 g 与 d₀₀₂之间的关系。然后进行石墨化度与无序度的实验测定研究,包括不同实验条件对全谱拟合结果的影响、不同求解 d₀₀₂的影响及 d₀₀₂法与全谱拟合法的比较。结果表明,d₀₀₂法测得的无序度 P₀₀₂与全谱拟合法求得的无序度 Pwsf 具有如下关系：经过理论分析和 XRD 实验研究得到如下结论： （1）2H-石墨的石墨化度 g 和无序度 P 有如下关系 g=1-P （2）用全谱拟合法测定 Pwsf 的推荐 XRD 实验条件为： DS=SS=1/6°,RS=0．30或0．15,Cu 靶,2θ扫描范围=20～110°,阶宽0．02°,计数时间0．4～0．5秒/步,共30～37．5分；或阶宽0．02°,连续扫描2．5～3．0°/分。 （3）用 d₀₀₂直线计算法求 P₀₀₂的公式 P₀₀₂=(3．440-d₀₀₂)/（3．440-3．354） 用 d₀₀₂直线计算法求石墨化度 g 的公式 g=(d₀₀₂-3．354)/（3．440-3．354） 推荐 XRD 实验条件为：DS=SS=1″ RS=0．30mm,阶宽0．02°,2θ扫描范围=25～30°连续扫描1°/分：2θ扫描范同=20～90°,连续扫描2．0～2．5°/分 （4）g 与 P₀₀₂、P_wsf之间有如下关系 P_wsf=0．038+0．763P₀₀₂ g=1-P₀₀₂=1-(P_wsf-0．038)/（0．763）