论文部分内容阅读
该文对ＧＨ１６９焊接膜盒的破裂做了分析，认为膜盒破裂是在焊接过程中焊缝根部产生的微裂纹在高频载荷作用下逐步扩展而失稳断裂所致，属于典型的疲劳破坏。在对影响膜盒疲劳寿命的诸多因素分析后，从工程可行的角度对膜盒的热处理制度作了改进，并在膜盒服役前进行过载处理。实验表明：改进后的热处理和过载处理大大提高了膜盒焊接接头的疲劳寿命。（本刊录）