BGA“枕头效应”的失效原因分析

来源 :2013中国高端SMT学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xp1987627
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"枕头效应"是BGA封装器件的一种典型且特有的失效模式,与多种因素有关.本文选取了一个典型的"枕头效应"案例进行分析,详细介绍了分析过程,获得了失效原因.同时,总结和分析了其它导致"枕头效应"的原因及对策.“枕头效应”是目前BGA焊接失效中发生频次较高的一种失效模式。这种失效由于焊点局部仍有接触,一般难于在厂内的功能测试中发现,其失效往往发生在后期的使用过程中,造成极大的损失和不良的影响,因此,前期预防和来料控制显得尤为重要。建议:1)做好来料控制,正确贮存和使用BGA器件,避免氧化和污染,此外,选择BGA器件时要关注对其焊球平整度及封装热变形的考察,从选料上把好关;2)在工艺控制方面,一方面避免贴片偏位,另一方面对于焊接工艺参数的设置上,不但要与锡青相匹配,还要与BGA相匹配,避免过度变形的发生。
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