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该文介绍了80C31单片机小系统在脉冲调制X频段微波辐照下敏感度的一些结果。采用辐照实验法,将单片机电路系统置于微波场中,以测量其翻转和损伤阈值。实验中测出了单微波脉冲(脉宽:0.4μs、1.15μs、1.4μs、2.0μs)作用下使单片机运行混乱(程序跳转)的阈值,并对单片机不同的状态和连续微波脉冲(重复频率10Hz、50Hz、100Hz、200Hz、400Hz、600Hz用下的阈值进行了测量。