16位ADC高速通用测试适配器的研究和实现

来源 :第一届中国微电子计量与测试技术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:kangyh123
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本文介绍了关于ADC高速通用测试适配器的研究和实现,主要介绍了测试ADC芯片静态参数和动态参数两种方法,针对静态参数,提出了用伺服环的方法,采用高精度电压源,高精度电压表和数字比较器的测试原理;针对动态参数,提出了用DDS芯片AD9851产生高信噪比的正弦波,采用高速采样模块采集数据,最后用FFT算法对采集的数据进行处理。
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