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X光探测用CsI(Tl)薄膜的空间分辨率与结构参数的关系
【机 构】
:
电子科技大学光电信息学院,成都,610054
【出 处】
:
第十五届全国凝聚态光学性质学术会议(OPCM'2010)
【发表日期】
:
2010年8期
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