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作为最重要的商用聚合物材料之一，高抗冲共聚聚丙烯的微结构受到了广泛的关注。然而受制于常规表征手段，人们无法将体系中的化学组成和物理结构统一起来。本工作采用的AFM-IR技术能够提供空间分辨率约100纳米尺度的光谱信息，我们首次建立了基于AFM-IR技术的纳米尺度定量分析方法，并采用该方法对一种商业牌号HIPP体系中的橡胶粒子进行了原位的化学组成分析。