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本文采用X射线荧光光谱法,以耐指纹板样品为校准样品,进行了耐指纹板有机涂层中siO2含量的测定。探讨了应用经验系数法无须基体校正,来进行薄层样品中单一组分SiO2的XRF法测量的新途径。实验结果表明:该方法简便、快速,精密度高,可以满足生产工艺和产品质量控制分析的需要。
X射线荧光光谱法测定耐指纹板涂层中二氧化硅
【摘 要】
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本文采用X射线荧光光谱法,以耐指纹板样品为校准样品,进行了耐指纹板有机涂层中siO2含量的测定。探讨了应用经验系数法无须基体校正,来进行薄层样品中单一组分SiO2的XRF法测
【机 构】
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鞍钢股份有限公司技术中心,鞍山 111009
【出 处】
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第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)
【发表日期】
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2010年期
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