目的:研究铜绿假单胞菌外膜孔蛋白OprD基因突变在亚胺培南耐药机制中的作用。 方法:对来自临床样本的34株耐亚胺培南的铜绿假单胞菌用PCR方法直接扩增OprD基因，扩增产物纯化后进行DNA双向序列分析，测得序列在www.ncbi.nlm.nih.gov/BLAST中的BLASTn(序列号：X63152.1 Pseudomonas aeruginosaPAO1)和BLASTx(序列号：NP249649.1 Pseudomonas aeruginosa PAO1)进行DNA序列和氨基酸序列分析，并与标准菌株ATCC27853和2株临床分离亚按培南敏感铜绿假单胞菌比较，分析突变类型和可能影响的OprD外膜蛋白功能域。 结果:OprD基因突变率高达92.3％，突变方式多样(包括点突变、缺失突变、插入突变)，导致外膜蛋白OprDL2、L3茎环结构上103、115、127、154、158、170、185、186、189位氨基酸改变或/和移码突变，直接影响OprD与IMP的结合，导致对IMP耐药。发现新的碱基变异位点(1079、1114、1196、1206、1288、1300、1301bp)和新的氨基酸突变位点(115、127、154、158、185、189位氨基酸)。以上突变在标准菌株ATCC27853和2株临床IMP敏感的Pa中均未检测到。 结论: OprD基因突变导致L2、L3茎环结构氨基酸改变或/和移码突变，影响OprD与IMP结合是本组铜绿假单胞菌对亚胺培南耐药的主要机制。