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用(XRD)和(TEM)研究碲化物薄膜附着牢固度与其显微结构的关系

来源 :十一省（市）光学学术会议论文集 | 被引量 : 0次 | 上传用户：welson926

【作 者】

：

张素英  范滨  程实平  凌洁华  周诗瑶  王葛亚  施天生 

【出 处】

：

十一省（市）光学学术会议论文集

【发表日期】

：

1999年11期

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