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计算机测控系统机内测试综合设计新方法
计算机测控系统机内测试综合设计新方法
来源 :第二十届全国测控、计量、仪器仪表学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:liongliong507
【摘 要】
:
提出了电子系统故障自诊断层次化综合设计新方法,分三个层次进行故障自诊断设计。首先采用自激励实现组件或模块的自诊断设计,其次采用边界扫描技术的互联线断路、短路检测,
【作 者】
:
王月芳;陈圣俭;
【机 构】
:
装甲兵工程学院 北京 100072
【出 处】
:
第二十届全国测控、计量、仪器仪表学术年会
【发表日期】
:
2010年期
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提出了电子系统故障自诊断层次化综合设计新方法,分三个层次进行故障自诊断设计。首先采用自激励实现组件或模块的自诊断设计,其次采用边界扫描技术的互联线断路、短路检测,最后是定位到故障元件的芯片自诊断方法。该方法具有广泛的通用性,可为复杂电子装备的机内自测试(BIT)设计提供指导和借鉴。
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