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该文主要报道IGBT模块可靠性的一些试验结果及失效分析结果。模块开关试验观测到IGBT锁定失效揭示了模块驱动电路对其开关特性的影响。400安/1200伏IGBT模块功率循环寿命试验结果表明引线压焊是目前影响IGBT模块长期工作寿命的主要因素。上述试验结果和理论分析相符。
绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块的可靠性研究
【摘 要】
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该文主要报道IGBT模块可靠性的一些试验结果及失效分析结果。模块开关试验观测到IGBT锁定失效揭示了模块驱动电路对其开关特性的影响。400安/1200伏IGBT模块功率循环寿命试验
【机 构】
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北京工业大学电子工程系
【出 处】
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中国电子学会可靠性分会第十届学术年会
【发表日期】
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2000年期
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