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80C86单粒子效应测试系统及实验研究
80C86单粒子效应测试系统及实验研究
来源 :第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:dengggaowanyuan
【摘 要】
:
单粒子效应是影响卫生正常工作主要因数之一,它是由于空间带电离子入射到超大规模集成电路(如SRA、CPU、FPGA等)中所引起的。由于CPU单粒子效应测试系统复杂,故国 内外在这一方面
【作 者】
:
陈晓华
贺朝会
【机 构】
:
西北核技术研究所
【出 处】
:
第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会
【发表日期】
:
1999年期
【关键词】
:
单粒子效应
测试系统
超大规模集成电路
数据处理
带电离子
测试原理
因数
验方
卫生
空间
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单粒子效应是影响卫生正常工作主要因数之一,它是由于空间带电离子入射到超大规模集成电路(如SRA、CPU、FPGA等)中所引起的。由于CPU单粒子效应测试系统复杂,故国 内外在这一方面的报道不多,该文较详细介绍他们所研制的80C86单粒子效应测试原理、实 验方案及其数据处理。
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