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该文研究了国产CMOS高速电路54HCT244八缓冲器／线驱动器在<60>Co辐照下，交流 特性退化与总剂理、剂量率、辐照偏置和工艺条件的关系。研究表明，在低剂量率0.07Gy(Si)/s辐照下，延迟时间T<,PHL>退化比高剂量率1.9Gy(Si)/s辐照下严重，且对加固电路，这一交流特性退化的剂量纺效应更为明显。辐照偏置对延迟时间退化具有强烈的影响，4.5V和０V二种偏置状态将分别导致电路的T<,PLH>和T<,PHL>产生较早而明显的退化。因此，为了 评估此类电路的总剂量加固性能，需要考虑合适的辐照试验条件和评估方法是十分重要的。同时结果亦为如何进一步提高加固水平具有指导作用。