正电子湮没寿命谱学(positron annihilation lifetime spectroscopy)是对材料纳米尺度缺陷进行无损检测的有效手段。对于我们的LaBr3闪烁体寿命谱仪而言，与理想情况不同，受制于探测器与电子学性能，信号脉冲“时间游动效应”所造成的定时系统误差难以由恒比定时甄别器(CFD)完全消除，残余系统误差会影响寿命谱质量，因此必须收紧CFD阈值范围(主要是start探测器CFD)以减小其影响，在计数率上做出让步。而为了降低本底事例率，我们不宜使用太强的放射源，探测器几何布局也有诸多限制以尽量减少“误符合”事例(如127光子背散射、双511光子自符合)，这都使得寿命谱计数率进一步降低，给实际应用带来不便，也对谱仪的稳定性提出了高要求。时间游动可以认为是脉冲幅度(或者说光子沉积能量)的函数，难由CFD消除的残余时间游动亦是如此，我们通过设置不同的start探测器CFD阈值，测得多组硅寿命谱，拟合出残余时间游动(寿命谱峰位或0道移动)与start脉冲幅度的关联曲线。之后，只要不改变谱仪结构，我们在记录每个寿命事例的同时记下与之对应的start脉冲幅度，再依据时间游动与脉冲幅度的关系式对寿命值进行修正补偿，以减轻定时系统误差的影响。此技术可由数字化寿命谱仪实现，目前我们采取半数字化技术，使用商业化数据采集卡(ADLink PCI-9820数字化卡)及其提供的LabVIEW驱动程序，以降低成本，缩短开发周期。实验结果表明，无论采取何种探测器与几何布局，修正后的寿命谱质量明显好转，可以放宽起始探测器的CFD阈值，提高计数率，并为二维寿命谱、全数字化谱仪等后续技术研发提供有益经验。