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Compton背散射成像技术由于其独特的优势广泛应用于无损检测领域。本文利用蒙特卡洛模拟软件包Geant4和基于Geant4的应用程序Gate模拟320kVp背散射探测系统的性能,如准直器的参数、探测器采集角度对系统信号的影响、以及系统的探测深度等。此外,我们模拟了光谱的衰减特性并与实验结果相比较,证明了蒙特卡洛模拟方法是有效的,该方法可用于背散射探测系统设计及优化。